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如何利用偏光显微镜系统分析晶质材料的显微结构

作者:1,2,3,4,5 来源: 日期:2019-10-7 14:54:01 人气:7 标签:
如何利用偏光显微镜系统分析晶质材料的显微结构


单偏光镜下晶体形,解理,突起,颜色,多色性,其
它则有无包裹性与有无次生变化等等。


在正交偏光镜下最高干涉色,折射率,消光类型与消
光角,以及延性符号等。


锥光镜下均质体与非均质体的区别在有没有干涉图,
轴性,干涉图的特征,通过不同切面方向,光性符号
定向切面。


利用偏光显微镜观察晶体质材料,可以得到在单偏光
下的观察,或是正光偏光镜下,一般按照单偏光、锥
光和其他顺序进行描述和记录。

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